MARC details
| 000 -CABECERA |
| campo de control de longitud fija |
03003cam a2200385Ii 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
95935 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20230102112729.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
| campo de control de longitud fija |
m o d |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr cn||||||||| |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
170505s2017 sz a ob 000 0 eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
3319475975 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319475974 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| ISBN cancelado o inválido |
3319475959 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| ISBN cancelado o inválido |
9783319475950 |
| Información calificativa |
(print) |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
| Centro catalogador/agencia de origen |
LGG |
| Centro/agencia transcriptor |
LGG |
| Centro/agencia modificador |
GW5XE |
| -- |
YDX |
| -- |
UAB |
| -- |
ESU |
| -- |
OCLCF |
| -- |
NJR |
| -- |
COO |
| -- |
OTZ |
| -- |
IOG |
| -- |
U3W |
| -- |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
| Número de clasificación |
TK7871.99.M44 |
| Número de documento/Ítem |
V446 2017 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Veendrick, H. J. M. |
| Forma completa/desarrollada del nombre |
(Harry J. M.), |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
| Título |
Nanometer CMOS ICs : |
| Resto del título |
from basics to ASICs |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Harry J. M. Veendrick. |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
| Mención de edición |
Second edition. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2017. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
1 recurso en línea (xxxvii, 595 páginas) |
| Otras características físicas |
ilustraciones (algunas a color) |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
| Nota general |
SpringerLink |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC. |
| Nota de bibliografía, etc. |
Incluye referencias bibliográficas e índice |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
Basic Principles -- Geometrical-, Physical- and Field-Scaling Impact on MOS Transistor Behavior -- Manufacture of MOS Devices -- CMOS Circuits -- Special Circuits, Devices and Technologies -- Memories -- Very Large Scale Integration (VLSI) and ASICs -- Low Power, a Hot Topic in IC Design -- Robustness of Nanometer CMOS Designs: Signal Integrity, Variability and Reliability -- Testing, Yield, Packaging, Debug and Failure Analysis -- Effects of Scaling on MOS IC Design and Consequences for the Roadmap. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
| Sumario, etc. |
This textbook provides a comprehensive, fully-updated introduction to the essentials of nanometer CMOS integrated circuits. It includes aspects of scaling to even beyond 12nm CMOS technologies and designs. It clearly describes the fundamental CMOS operating principles and presents substantial insight into the various aspects of design implementation and application. Coverage includes all associated disciplines of nanometer CMOS ICs, including physics, lithography, technology, design, memories, VLSI, power consumption, variability, reliability and signal integrity, testing, yield, failure analysis, packaging, scaling trends and road blocks. The text is based upon in-house Philips, NXP Semiconductors, Applied Materials, ASML, IMEC, ST-Ericsson, TSMC, etc., courseware, which, to date, has been completed by more than 4500 engineers working in a large variety of related disciplines: architecture, design, test, fabrication process, packaging, failure analysis and software. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
| Nota local 598 (boletines) |
EBOOK, asignarmaterias, EBSPRINGER_2017D |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Circuitos integrados |
| Subdivisión general |
Diseño y construcción |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
(OCoLC)fst00811719 |
| -- |
|
| 9 (RLIN) |
179611 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=http://link.springer.com/10.1007/978-3-319-47597-4 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
| -- |
1 |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Library of Congress Classification |
| Tipo de ítem Koha |
LIBRO-E NO PRÉSTAMO |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
| Fecha de catalogación |
02/2018 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
|
| Catalogado |
Sí |