MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03288cam a2200385Ii 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
95823 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102112723.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
m o d |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr cnu|||unuuu |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
170418s2017 sz a o 001 0 eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
3319514334 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319514338 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| ISBN cancelado o inválido |
3319514326 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| ISBN cancelado o inválido |
9783319514321 |
| Información calificativa |
(print) |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
GW5XE |
| Centro/agencia transcriptor |
GW5XE |
| Centro/agencia modificador |
OCLCF |
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YDX |
| -- |
UAB |
| -- |
MERER |
| -- |
ESU |
| -- |
AZU |
| -- |
UPM |
| -- |
IOG |
| -- |
OCLCQ |
| -- |
COO |
| -- |
OTZ |
| -- |
VT2 |
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OCLCQ |
| -- |
U3W |
| -- |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TJ1075 |
| Número de documento/Ítem |
.N366 2017 EB |
| 245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Nanotribology and nanomechanics : |
| Resto del título |
an introduction |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Bharat Bhushan, editor. |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
Fourth edition. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham, Switzerland |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2017. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea (xvi, 928 páginas) |
| Otras características físicas |
ilustraciones (algunas a color) |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
|---|
| Nota general |
Incluye índice |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
|---|
| Nota general |
SpringerLink |
| -- |
Springer Engineering eBooks 2017 English+International |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Introduction -- Measurement Techniques and Applications -- Part I. Scanning Probe Microscopy: Scanning Probe Microscopy -- Principle of Operation, Instrumentation and Probes -- Calibration of Normal and Lateral Forces in Cantilevers used in Atomic Force Microscopy -- Biomedical Sensing with the Atomic Force Microscope -- Part II. Nanomechanics: Nanomechanical Properties of Solid Surfaces and Thin Films -- Nanomechanical Properties of Nanostructures and Scale Effects -- Computer Simulations of Nanometer-Scale Indentation and Friction -- Part III. Nanotribology: Nanotribology, Nanomechanics, and Materials Characterization Studies Using Scanning Probe Microscopy -- Surface Forces and Nanorheology of Molecularly Thin Films -- Atomic Scale Friction Phenomena -- Scale Effect in Mechanical Properties and Tribology -- Part IV. Molecularly-Thick Films for Lubrication: Nanotribology of Ultrathin and Hard Amorphous Carbon Films -- Self-Assembled Monolayers for Controlling Adhesion, Friction, and Wear -- Nanoscale Boundary Lubrication Studies -- Part V. Industrial Applications: Micro/Nanotribology and Micro/Nanomechanics of Magnetic Storage Devices -- Nanotribology and Nanomechanics of MEMS/NEMS and BioMEMS/NEMS Materials and Devices. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
This textbook and comprehensive reference source and serves as a timely, practical introduction to the principles of nanotribology and nanomechanics. This 4th edition has been completely revised and updated, concentrating on the key measurement techniques, their applications, and theoretical modeling of interfaces. It provides condensed knowledge of the field from the mechanics and materials science perspectives to graduate students, research workers, and practicing engineers. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
EBOOK, asignarmaterias, EBSPRINGER_2017C |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Nanotecnología |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
(OCoLC)fst01032639 |
| -- |
|
| 9 (RLIN) |
158453 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Bhushan, Bharat, |
| Fechas asociadas al nombre |
1949- |
| Término indicativo de función/relación |
editor literario |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=http://link.springer.com/10.1007/978-3-319-51433-8 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
02/2018 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
|
| Catalogado |
Sí |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
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1 |