MARC details
| 000 -CABECERA |
| campo de control de longitud fija |
02856cam a2200373Mi 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
95474 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20230102112705.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
| campo de control de longitud fija |
m o d |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr |n||||||||| |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
170228s2017 sz a o 000 0 eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
3319508245 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319508245 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| ISBN cancelado o inválido |
3319508229 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| ISBN cancelado o inválido |
9783319508221 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
| Centro catalogador/agencia de origen |
YDX |
| Centro/agencia transcriptor |
YDX |
| Centro/agencia modificador |
GW5XE |
| -- |
NJR |
| -- |
N$T |
| -- |
IDEBK |
| -- |
EBLCP |
| -- |
N$T |
| -- |
OCLCF |
| -- |
COO |
| -- |
UAB |
| -- |
AZU |
| -- |
UWO |
| -- |
IOG |
| -- |
UPM |
| -- |
MERER |
| -- |
ESU |
| -- |
Z5A |
| -- |
OCLCQ |
| -- |
JBG |
| -- |
IAD |
| -- |
ICW |
| -- |
ICN |
| -- |
OTZ |
| -- |
OCLCQ |
| -- |
U3W |
| -- |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
| Número de clasificación |
T174.7 |
| Número de documento/Ítem |
O985 2017 EB |
| 245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO |
| Título |
Outlook and challenges of nano devices, sensors, and MEMS |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Ting Li, Ziv Liu, editors. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2017. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
1 recurso en línea |
| Otras características físicas |
ilustraciones (algunas a color) |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
| Nota general |
SpringerLink |
| -- |
Springer Engineering eBooks 2017 English+International |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
Introduction -- High-k dielectric for nanoscale MOS devices -- Performance, optimization, and reliability of FinFET devices -- Performance, optimization, and challenges of emerging nanowire field-effect transistors -- Graphene technology for future MEMS and sensor applications -- Nanoscale sensors for next-generation optical transceiver applications -- Nanoscale MEMS for future optical communication applications -- Nanoscale devices for biomedical applications -- Effect of nanoscale structure on reliability of nano devices and sensors -- Compact modeling of nano devices and sensors -- Three-dimensional TCAD simulation of nano semiconductor devices -- Fabrication of nano devices based on novel material -- Novel processing technology for fabricating nano devices and sensors -- Conclusions. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
| Sumario, etc. |
This book provides readers with an overview of the design, fabrication, simulation, and reliability of nanoscale semiconductor devices, MEMS, and sensors, as they serve for realizing the next-generation internet of things. The authors focus on how the nanoscale structures interact with the electrical and/or optical performance, how to find optimal solutions to achieve the best outcome, how these apparatus can be designed via models and simulations, how to improve reliability, and what are the possible challenges and roadblocks moving forward. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
| Nota local 598 (boletines) |
EBOOK, asignarmaterias, EBSPRINGER_2017C |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrónica |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
(OCoLC)fst01019745 |
| -- |
|
| 9 (RLIN) |
138690 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Li, Ting. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Liu, Ziv. |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=http://link.springer.com/10.1007/978-3-319-50824-5 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
| Fecha de catalogación |
02/2018 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
|
| Catalogado |
Sí |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
| -- |
1 |