Outlook and challenges of nano devices, sensors, and MEMS (Record no. 95474)

MARC details
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 02856cam a2200373Mi 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 95474
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control ES-MaUEC
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20230102112705.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija m o d
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr |n|||||||||
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170228s2017 sz a o 000 0 eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 3319508245
Información calificativa (electronic bk.)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783319508245
Información calificativa (electronic bk.)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
ISBN cancelado o inválido 3319508229
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
ISBN cancelado o inválido 9783319508221
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen YDX
Centro/agencia transcriptor YDX
Centro/agencia modificador GW5XE
-- NJR
-- N$T
-- IDEBK
-- EBLCP
-- N$T
-- OCLCF
-- COO
-- UAB
-- AZU
-- UWO
-- IOG
-- UPM
-- MERER
-- ESU
-- Z5A
-- OCLCQ
-- JBG
-- IAD
-- ICW
-- ICN
-- OTZ
-- OCLCQ
-- U3W
-- ES-MaUEC
Lengua de catalogación spa
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación T174.7
Número de documento/Ítem O985 2017 EB
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Outlook and challenges of nano devices, sensors, and MEMS
Mención de responsabilidad, etc. Ting Li, Ziv Liu, editors.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Cham
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2017.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 1 recurso en línea
Otras características físicas ilustraciones (algunas a color)
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido Texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio electrónico
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso electrónico
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo text file
Formato de codificación PDF
Fuente rda
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general SpringerLink
-- Springer Engineering eBooks 2017 English+International
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction -- High-k dielectric for nanoscale MOS devices -- Performance, optimization, and reliability of FinFET devices -- Performance, optimization, and challenges of emerging nanowire field-effect transistors -- Graphene technology for future MEMS and sensor applications -- Nanoscale sensors for next-generation optical transceiver applications -- Nanoscale MEMS for future optical communication applications -- Nanoscale devices for biomedical applications -- Effect of nanoscale structure on reliability of nano devices and sensors -- Compact modeling of nano devices and sensors -- Three-dimensional TCAD simulation of nano semiconductor devices -- Fabrication of nano devices based on novel material -- Novel processing technology for fabricating nano devices and sensors -- Conclusions.
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book provides readers with an overview of the design, fabrication, simulation, and reliability of nanoscale semiconductor devices, MEMS, and sensors, as they serve for realizing the next-generation internet of things. The authors focus on how the nanoscale structures interact with the electrical and/or optical performance, how to find optimal solutions to achieve the best outcome, how these apparatus can be designed via models and simulations, how to improve reliability, and what are the possible challenges and roadblocks moving forward.
988 ## - NOTA LOCAL 598
Nota local 598 (boletines) EBOOK, asignarmaterias, EBSPRINGER_2017C
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Electrónica
Fuente del encabezamiento o término embne
Número de control del registro de autoridad o número normalizado (OCoLC)fst01019745
--
9 (RLIN) 138690
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Li, Ting.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Liu, Ziv.
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=http://link.springer.com/10.1007/978-3-319-50824-5
Nota pública Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid)
998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS
Fecha de catalogación 02/2018
Tipo de materia E-book
Catalogador
Catalogado
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
-- 1
Holdings
Información adicional para el OPAC Código 2 (categoría) Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Tipo de material Código 1: Estado físico No se presta Código de colección Estado Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Fuente de adquisición Precio Tipo de préstamo Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
Acceso concurrente No retirado   Library of Congress Classification E-Libro Buen estado Acceso electrónico Ciencias e Ingeniería Acceso electrónico Madrid Digital Madrid Digital Acceso Electrónico (UEM) 08/01/2018 5 0.00 En línea   T174.7 O985 2017 EB eBook.20023079 26/02/2018 26/02/2018 LIBRO-E NO PRÉSTAMO