MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
04910cam a2200457Ii 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
94969 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102112640.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
m o d |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr cnu|||unuuu |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
161202s2017 sz ob 000 0 eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
3319488988 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
3319488996 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319488981 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319488998 |
| Información calificativa |
(electronic bk.) |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| ISBN cancelado o inválido |
9783319488981 |
| Información calificativa |
(print) |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
|---|
| Número de control de sistema |
(OCoLC)964698693 |
| Número de control cancelado/no válido |
(OCoLC)974651743 |
| -- |
(OCoLC)981099953 |
| -- |
(OCoLC)1005800132 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
N$T |
| Centro/agencia transcriptor |
N$T |
| Centro/agencia modificador |
IDEBK |
| -- |
EBLCP |
| -- |
GW5XE |
| -- |
N$T |
| -- |
IDB |
| -- |
AZU |
| -- |
UAB |
| -- |
CNCGM |
| -- |
OCLCF |
| -- |
YDX |
| -- |
UPM |
| -- |
IOG |
| -- |
VT2 |
| -- |
UWO |
| -- |
ESU |
| -- |
JBG |
| -- |
IAD |
| -- |
ICW |
| -- |
ICN |
| -- |
OTZ |
| -- |
OCLCQ |
| -- |
U3W |
| -- |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7868.L6 |
| Número de documento/Ítem |
P677 2017 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Posser, Gracieli, |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Electromigration inside logic cells : |
| Resto del título |
modeling, analyzing and mitigating signal electromigration in NanoCMOS |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham, Switzerland |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2017 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
|---|
| Nota general |
SpringerLink |
| -- |
Springer Engineering eBooks 2017 English+International |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC. |
|---|
| Nota de bibliografía, etc. |
Incluye referencias bibliográficas |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Preface; Acknowledgments; Contents; List of Figures; List of Tables; Abbreviations; 1 Introduction; 1.1 Reliability and Electromigration; 1.2 Electromigration in Future Technologies; 1.3 Motivation and Contributions; 1.4 Monograph Outline; 2 State of the Art; 2.1 Mitigating the EM Effects in Different IC Design Flow Stages; 2.1.1 Managing Electromigration in Logic Designs; 2.1.2 Electromigration Impact in Future Technologies; 2.1.3 Smart Non-default Routing for Clock Power Reduction; 2.1.4 Impacts of Electromigration Awareness. |
| 505 8# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
2.2 Mitigating the EM Effects in Different Types of Interconnections2.2.1 TSVs; 2.2.2 Power Delivery Network; 2.2.3 Clock Network; 2.2.4 Vias; 2.2.5 Signal Interconnects; 2.2.6 Cell-Internal EM; 2.2.6.1 Accurate Current Estimation for Interconnect Reliability Analysis (Jain12); 2.2.6.2 CMOS Inverter and Standard Cell the Same(patenteempindomae2001cmos); 2.3 Summary of Related Works; 2.4 Conclusions; 3 Modeling Cell-Internal EM; 3.1 Modeling Time-to-Failure Under EM; 3.2 Joule Heating; 3.2.1 Local Hot Spots from Joule Heating; 3.3 Current Divergence. |
| 505 8# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
3.3.1 New Electromigration Validation: Via Node Vector Method3.3.2 Applying Current Divergence in the Proposed EM Model; 3.3.3 The Impact of Blech Length on Cell-Internal Interconnects; 3.4 Conclusions; 4 Current Calculation; 4.1 Current Flows Using Graph Traversals; 4.2 Algebra for Average/RMS Current Updates; 4.2.1 Algebra for Computing Average Current; 4.2.2 Algebra for Computing the RMS Current; 4.2.2.1 Example; 4.3 Results; 5 Experimental Setup; 6 Results; 6.1 The Electromigration Effects for Different Logic Gates; 6.1.1 NAND2_X2 and NOR2_X2 Gates. |
| 505 8# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
6.1.1.1 TTF Improvement by Layout Modifications6.1.2 AOI21_X2; 6.1.2.1 TTF Improvement by Layout Modifications; 6.1.3 NOR2_X4; 6.1.4 INV_X16; 6.2 Conclusion; 7 Analyzing the Electromigration Effects on Different Metal Layers and Different Wire Lengths; 7.1 Experimental Setup; 7.2 Simulation Results; 7.3 Conclusion; 8 Conclusions; 8.1 Future Works; A Impact on Physical Synthesis Considering Different Amounts of Instances with EM Awareness; B Coupling Capacitance Currents; References. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
EBOOK, asignarmaterias, EBSPRINGER_2017B |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Iones |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
(OCoLC)fst00906436 |
| -- |
|
| 9 (RLIN) |
676271 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Reis, Ricardo |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 9 (RLIN) |
100026 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Sapatnekar, Sachin S., |
| Fechas asociadas al nombre |
1967- |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=http://link.springer.com/10.1007/978-3-319-48899-8 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
02/2018 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
|
| Catalogado |
Sí |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
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1 |