MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03685nam a2200397 i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
398042 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20240314174517.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
a|||||o|||| 00| 0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
230301s2023 si | o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9789811985515 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-981-19-8551-5 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| Centro/agencia transcriptor |
ES-MaUEC |
| Centro/agencia modificador |
ES-MaUEC |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7874 |
| Número de documento/Ítem |
2023 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Li, Xiaowei |
| Fechas asociadas al nombre |
1964- |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
(orcid)0000-0002-0874-814X |
| Enlace |
<a href="https://orcid.org/0000-0002-0874-814X">https://orcid.org/0000-0002-0874-814X</a> |
| Código de función/relación |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| 9 (RLIN) |
689506 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : |
| Resto del título |
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Xiaowei Li, Guihai Yan, Cheng Liu |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
1st ed 2023 |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Singapore |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer Nature |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2023 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| Fuente |
rda |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Chapter 1: Introduction -- Chapter 2: Fault-tolerant general circuits with 3S -- Chapter 3: Fault-tolerant general purposed processors with 3S -- Chapter 4: Fault-tolerant network-on-chip with 3S -- Chapter 5: Fault-tolerant deep learning processors with 3S -- Chapter 6: Conclusion. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. |
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| Sumario, etc. |
With the end of Dennard scaling and Moore's law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm that seeks to combine fault detection, fault diagnosis, and error recovery in large-scale VLSI design in a unified manner so as to minimize resource overhead and performance penalties. Following this computing paradigm, we propose a holistic solution based on three key components: self-test, self-diagnosis and self-repair, or "3S" for short. We then explore the use of 3S for general IC designs, general-purpose processors, network-on-chip (NoC) and deep learning accelerators, and present prototypes to demonstrate how 3S responds to in-field silicon degradation and recovery under various runtime faults caused by aging, process variations, or radical particles. Moreover, we demonstrate that 3S not only offers a powerful backbone for various on-chip fault-tolerant designs and implementations, but also has farther-reaching implications such as maintaining graceful performance degradation, mitigating the impact of verification blind spots, and improving chip yield. This book is the outcome of extensive fault-tolerant computing research pursued at the State Key Lab of Processors, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences over the past decade. The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs. Hopefully, it will provide an alternative yet effective solution to the growing reliability challenges for large-scale VLSI designs. . |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
Springer_Computer_2023 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
139614 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Circuitos integrados |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| 9 (RLIN) |
689507 |
| Nombre de persona |
Yan, Guihai |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| 9 (RLIN) |
12362 |
| Nombre de persona |
Liu, Cheng |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-981-19-8551-5 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| -- |
1 |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
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| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Library of Congress Classification |
| Tipo de ítem Koha |
LIBRO-E NO PRÉSTAMO |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
01/2024 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Isabel Alonso |
| Catalogado |
Sí |