MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03894nam a2200409 i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
387974 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230505112311.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
a||||fo|||| 00| 0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
220601s2009 sz | o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783031797910 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-3-031-79791-0 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| Centro/agencia transcriptor |
ES-MaUEC |
| Centro/agencia modificador |
ES-MaUEC |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7874 |
| Número de documento/Ítem |
2009 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Marshall, Andrew |
| Fechas asociadas al nombre |
1958- |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| 9 (RLIN) |
688385 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Mismatch and Noise in Modern IC Processes |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Andrew Marshall |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
1st edition 2009 |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2009 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea (X, 139 páginas) |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| Fuente |
rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| Fuente |
rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| Fuente |
rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
archivo de texto |
| Formato de codificación |
PDF |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Synthesis Lectures on Digital Circuits & Systems |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1932-3174 |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Part I: Mismatch -- Introduction -- Variability and Mismatch in Digital Systems -- Variability and Mismatch in Analog Systems I -- Variability and Mismatch in Analog Systems II -- Lifetime-Induced Variability -- Mismatch in Nonconventional Processes -- Mismatch Correction Circuits -- Part II: Noise -- Component and Digital Circuit Noise -- Noise Effects in Digital Systems -- Noise Effects in Analog Systems -- Circuit Design to Minimize Noise Effects -- Noise Considerations in SOI. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
Component variability, mismatch, and various noise effects are major contributors to design limitations in most modern IC processes. Mismatch and Noise in Modern IC Processes examines these related effects and how they affect the building block circuits of modern integrated circuits, from the perspective of a circuit designer. Variability usually refers to a large scale variation that can occur on a wafer to wafer and lot to lot basis, and over long distances on a wafer. This phenomenon is well understood and the effects of variability are included in most integrated circuit design with the use of corner or statistical component models. Mismatch, which is the emphasis of section I of the book, is a local level of variability that leaves the characteristics of adjacent transistors unmatched. This is of particular concern in certain analog and memory systems, but also has an effect on digital logic schemes, where uncertainty is introduced into delay times, which can reduce margins and introduce 'race' conditions. Noise is a dynamic effect that causes a local mismatch or variability that can vary during operation of a circuit, and is considered in section II. Noise can be the result of atomic effects in devices or circuit interactions, and both of these are discussed in terms of analog and digital circuitry. Table of Contents: Part I: Mismatch / Introduction / Variability and Mismatch in Digital Systems / Variability and Mismatch in Analog Systems I / Variability and Mismatch in Analog Systems II / Lifetime-Induced Variability / Mismatch in Nonconventional Processes / Mismatch Correction Circuits / Part II: Noise / Component and Digital Circuit Noise / Noise Effects in Digital Systems / Noise Effects in Analog Systems / Circuit Design to Minimize Noise Effects / Noise Considerations in SOI. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
Synthesis Collection of Technology_2009 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
138689 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Microelectrónica |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
139614 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Circuitos integrados |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783031797903 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783031797927 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-031-79791-0 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Library of Congress Classification |
| Tipo de ítem Koha |
LIBRO-E NO PRÉSTAMO |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
05/2023 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Isabel Alonso |
| Catalogado |
Sí |