Reliability of Organic Compounds in Microelectronics and Optoelectronics : (Record no. 368557)

MARC details
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 04262nam a22004575i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 368557
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control ES-MaUEC
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20230102121746.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija a||||fo|||| 00| 0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 220131s2022 sz | s |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783030815769
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/978-3-030-81576-9
Fuente del número o código doi
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen ES-MaUEC
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor ES-MaUEC
Centro/agencia modificador ES-MaUEC
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7867
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Reliability of Organic Compounds in Microelectronics and Optoelectronics :
Resto del título From Physics-of-Failure to Physics-of-Degradation
Mención de responsabilidad, etc. edited by Willem Dirk van Driel, Maryam Yazdan Mehr
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN
Mención de edición First edition 2022
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Cham
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer International Publishing
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2022
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 1 recurso en línea (VIII, 550 páginas)
Otras características físicas 333 ilustraciones, 298 ilustraciones a color
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Fuente rdacontent
Término de tipo de contenido Texto
Código de tipo de contenido txt
337 ## - TIPO DE MEDIO
Fuente rdamedia
Nombre/término del tipo de medio electrónico
Código del tipo de medio c
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Fuente rdacarrier
Nombre/término del tipo de soporte recurso electrónico
Código del tipo de soporte cr
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction to reliability -- Introduction to failure analysis methodologies -- An overview of remaining life assessment methodologies in engineering materials -- Reliability and failure of microelectronic materials and components in harsh working conditions -- Reliability and failure of solar cell materials and systems in harsh working conditions -- Electromigration-induced failures in microelectronic components -- Corrosion and degradation of metals -- Creep failures in high temperature alloys -- An overview of failures in boilers and heat exchangers in power plants -- Fatigue-related failures -- Degradation and failure of polymers -- Virtual prototyping techniques for prediction material degradation -- Health monitoring, machine learning and digital twin -- Discussions and concluding remarks -- Index.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book aims to provide a comprehensive reference into the critical subject of failure and degradation in organic materials, used in optoelectronics and microelectronics systems and devices. Readers in different industrial sectors, including microelectronics, automotive, lighting, oil/gas, and petrochemical will benefit from this book. Several case studies and examples are discussed, which readers will find useful to assess and mitigate similar failure cases. More importantly, this book presents methodologies and useful approaches in analyzing a failure and in relating a failure to the reliability of materials and systems. Presents methodologies for analysing the reliability, failure, and degradation of different organic materials, used in optoelectronics and microelectronics; Provides an overview of different failure mechanisms in different organic materials; Explains how to correlate product performance and reliability to materials degradation; Provides an overview of simulation techniques and methodologies to predict lifetime and reliability of engineering materials and components; Integrates several degradation causes in different materials (thermal, moisture, light radiation, mechanical damage, and more) into large-scale system solutions in several industrial domains (lighting, automotive, oil/gas, and transport and more); Includes case studies from different failure/degradation mechanisms in different industrial sectors.
988 ## - NOTA LOCAL 598
Nota local 598 (boletines) Springer_Engineering_2022
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Fuente del encabezamiento o término embne
9 (RLIN) 680805
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Compuestos orgánicos
Subdivisión de forma Congresos y asambleas
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Fuente del encabezamiento o término embne
9 (RLIN) 138689
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Microelectrónica
Subdivisión de forma Congresos y asambleas
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Fuente del encabezamiento o término embne
9 (RLIN) 158826
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Optoelectrónica
Subdivisión de forma Congresos y asambleas
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona van Driel, Willem Dirk
Término indicativo de función/relación editor literario
Código de función/relación edt
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Yazdan Mehr, Maryam
Término indicativo de función/relación editor literario
Código de función/relación edt
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9783030815752
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9783030815776
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9783030815783
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-030-81576-9
Nota pública Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid)
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
-- 1
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación Library of Congress Classification
Tipo de ítem Koha LIBRO-E NO PRÉSTAMO
Suprimir en OPAC No
998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS
Fecha de catalogación 04/2022
Tipo de materia E-book
Catalogador Susana Carmen Delgado Sanz
Catalogado
Holdings
Información adicional para el OPAC Código 2 (categoría) Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Tipo de material Código 1: Estado físico No se presta Código de colección Estado Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Tipo de préstamo Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
Acceso concurrente No retirado   Library of Congress Classification E-Libro Buen estado Acceso electrónico Ciencias e Ingeniería Acceso electrónico Madrid Digital Madrid Digital Acceso Electrónico (UEM) 01/04/2022 En línea   TK7867 2022 EB eBook.01042332 01/04/2022 01/04/2022 LIBRO-E NO PRÉSTAMO