MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
04027nam a22004455i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
361782 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
ES-MaUEC |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102121428.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
a||||fo|||| 00| 0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
220112s2021 sz | s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783030683689 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-3-030-68368-9 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| Centro/agencia transcriptor |
ES-MaUEC |
| Centro/agencia modificador |
ES-MaUEC |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7871.95 |
| Número de documento/Ítem |
2021 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Zimpeck, Alexandra |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 9 (RLIN) |
680487 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola, Ricardo Reis |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
First edition 2021 |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2021 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea (XIII, 131 páginas) |
| Otras características físicas |
89 ilustraciones, 86 ilustraciones a color |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Fuente |
rdacontent |
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Fuente |
rdamedia |
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Fuente |
rdacarrier |
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
archivo de texto |
| Formato de codificación |
PDF |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Engineering (SpringerNature-11647) |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Engineering (R0) (SpringerNature-43712) |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
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| Nota de contenido con formato |
Chapter 1. Introduction -- Chapter 2. FinFET Technology -- Chapter 3. Reliability Challenges in FinFETs -- Chapter 4. Circuit-Level Mitigation Approaches -- Chapter 5. Evaluation Methodology -- Chapter 6. Process Variability Mitigation -- Chapter 7. Soft Error Mitigation -- Chapter 8. General Trade-offs -- Chapter 9. Final Remarks. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
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| Sumario, etc. |
This book evaluates the influence of process variations (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in a set of logic cells using FinFET technology, considering the 7nm technological node as a case study. Moreover, for accurate soft error estimation, the authors adopt a radiation event generator tool (MUSCA SEP3), which deals both with layout features and electrical properties of devices. The authors also explore four circuit-level techniques (e.g. transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells. This book also evaluates the mitigation tendency when different levels of process variation, transistor sizing, and radiation particle characteristics are applied in the design. An overall comparison of all methods addressed by this work is provided allowing to trace a trade-off between the reliability gains and the design penalties of each approach regarding the area, performance, power consumption, single event transient (SET) pulse width, and SET cross-section. Explains how to measure the influence of process variability (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in FinFET logic cells; Enables designers to improve the robustness of FinFET integrated circuits without focusing on manufacturing adjustments; Discusses the benefits and downsides of using circuit-level approaches such as transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor for mitigating the impact of process variability and soft errors; Evaluates the techniques described in the context of different test scenarios: distinct levels of process variations, transistor sizing, and different radiation features; Helps readers identify the best circuit design considering the target application and design requirements like area constraints or power/delay limitations. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
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| Nota local 598 (boletines) |
Springer_Engineering_2021 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
162208 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Transistores de efecto de campo |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Meinhardt, Cristina |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 9 (RLIN) |
680488 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Artola, Laurent |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 9 (RLIN) |
680489 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Reis, Ricardo |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| 9 (RLIN) |
100026 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783030683672 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783030683696 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Printed edition: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783030683702 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-030-68368-9 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| -- |
1 |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Library of Congress Classification |
| Tipo de ítem Koha |
LIBRO-E NO PRÉSTAMO |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
01/2022 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Irene González |
| Catalogado |
Sí |