VLSI Design and Test for Systems Dependability (Record no. 110480)

MARC details
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 05120nam a22004095i 4500
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija a||||fo|||| 00| 0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn nnnaamaa
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 110480
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control ES-MaUEC
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20230102113423.0
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 180720s2019 ja a o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9784431565949
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/978-4-431-56594-9
Fuente del número o código doi
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia modificador ES-MaUEC
Centro/agencia transcriptor ES-MaUEC
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7874
Número de documento/Ítem 2019 EB
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título VLSI Design and Test for Systems Dependability
Mención de responsabilidad, etc. Shojiro Asai, editor
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Tokyo
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer Japan :
-- Imprint: Springer
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2019
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 1 recurso en línea (XVII, 800 páginas)
Otras características físicas 585 ilustraciones
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Fuente rdacontent
Término de tipo de contenido Texto
Código de tipo de contenido txt
337 ## - TIPO DE MEDIO
Fuente rdamedia
Nombre/término del tipo de medio electrónico
Código del tipo de medio c
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Fuente rdacarrier
Nombre/término del tipo de soporte recurso electrónico
Código del tipo de soporte cr
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo text file
Formato de codificación PDF
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Engineering (Springer-11647)
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Challenges and Opportunities in VLSI for Systems Dependability -- Design and Development of Electronic Systems for Quality and Dependability -- Radiation-Induced Soft Errors -- Electromagnetic Noises -- Variations in Device Characteristics -- Time-Dependent Degradation in Device Characteristics -- Connectivity in Wireless Telecommunications -- Connectivity in Electronic Packaging -- Responsiveness for Hard Real Time Control -- The Role of Security LSI and the Example of Malicious Attacks -- Verification and Test Coverage -- Unknown Threats and Provisions -- Design Automation for Reliability -- Formal Verification and Debugging of VLSI Logic Design for Systems Dependability:Experiments and Evaluation -- Virtualization: System-Level Fault Simulation of SRAM Errors in  Automotive Electronic Control Systems -- DART - A Concept of In-Field Testing for Enhancing System De-pendability -- Design of SRAM Resilient against Dynamic Voltage Variations -- Design and Applications of Dependable Non-Volatile Memory Systems -- Network-on-Chip Based Multiple-Core Centrized ECUs for Safety-Critical Automotive Applications -- An On-Chip Router Architecture for Dependable Multicore Processor -- Wireless Interconnect in Electronic Systems -- Wireless Power Delivery Resilient against Loading Variations -- Extended Dependable Air: Use of Satellites in Boosting Dependability of PublicWireless Communications -- Responsive Multithreaded Processor for Hard Real-Time Robotic Applications -- A Low-Latency DMR Architecture with Fast Checkpoint Recovery Scheme Using  Simultaneously Copyable SRAM -- A 3D-VLSI Architecture for Future Automotive Visual Recognition -- Applications of Reconfigurable Processors as Embedded Automatons in the IoT Sensor Networks in Space -- An FPGA Implementation of Comprehensive Security Functions for Systems-Level Authentication -- SRAM-Based Physically Unclonable Functions (PUFs) to Generate Signature out of Silicon for Authentication and Encryption.
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts. Part I, as a general introduction to this vital topic, describes how electronic systems are designed and tested with particular emphasis on dependability engineering, where the simultaneous assessment of the detrimental outcome of failures and cost of their containment is made. This section also describes the related research project "Dependable VLSI Systems," in which the editor and authors of the book were involved for 8 years. Part II addresses various threats to the dependability of VLSIs as key systems components, including time-dependent degradations, variations in device characteristics, ionizing radiation, electromagnetic interference, design errors, and tampering, with discussion of technologies to counter those threats. Part III elaborates on the design and test technologies for dependability in such applications as control of robots and vehicles, data processing, and storage in a cloud environment and heterogeneous wireless telecommunications. This book is intended to be used as a reference for engineers who work on the design and testing of VLSI systems with particular attention to dependability. It can be used as a textbook in graduate courses as well. Readers interested in dependable systems from social and industrial-economic perspectives will also benefit from the discussions in this book.
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Fuente del encabezamiento o término embne
9 (RLIN) 138689
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Microelectrónica
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 670141
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Circuitos integrados VLSI
Fuente del encabezamiento o término embne
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Online service)
9 (RLIN) 106996
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Asai, Shojiro.
Término indicativo de función/relación editor literario
Código de función/relación edt
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9784431565925
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9784431565932
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Printed edition:
Número Internacional Estándar del Libro 9784431568636
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-4-431-56594-9
Nota pública Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid)
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
-- 1
988 ## - NOTA LOCAL 598
Nota local 598 Primersemestre_2019_Engineering
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación Library of Congress Classification
Tipo de ítem Koha LIBRO-E NO PRÉSTAMO
998 ## - FONDO MILLENIUM
Biblioteca SI
Tipo de registro m
Tipo de materia z
Idioma eng
País gw
h 0
Fecha creación 07/2019
e el
Catalogado
Holdings
Información adicional para el OPAC Código 2 (categoría) Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Tipo de material Código 1: Estado físico No se presta Código de colección Estado Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Tipo de préstamo Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
Acceso concurrente No retirado   Library of Congress Classification E-Libro Buen estado Acceso electrónico Ciencias e Ingeniería Acceso electrónico Madrid Digital Madrid Digital Acceso Electrónico (UEM) 08/11/2018 En línea   TK7874 2019 EB eBooks24062172 26/06/2019 26/06/2019 LIBRO-E NO PRÉSTAMO