Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (Record no. 103658)

MARC details
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03384nam a22003855i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 103658
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control DE-He213
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20230102113140.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija a||||fo|||| 00| 0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 140925s2015 gw | s |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783319093093
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/978-3-319-09309-3
Fuente del número o código doi
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia modificador ES-MaUEC
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7874.75
Número de documento/Ítem D443 2015 EB
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Dehbashi, Mehdi.
Término indicativo de función/relación autor.
Código de función/relación aut
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut
Enlace <a href="http://viaf.org/viaf/5893150033046211180005/">http://viaf.org/viaf/5893150033046211180005/</a>
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Mención de responsabilidad, etc. by Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Cham
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer International Publishing
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2015
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 1 recurso en línea (XIV, 171 páginas 93 ilustraciones, 55 ilustraciones a color.)
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Fuente rdacontent
Término de tipo de contenido Texto (visual)
Código de tipo de contenido txt
337 ## - TIPO DE MEDIO
Fuente rdamedia
Nombre/término del tipo de medio electrónico
Código del tipo de medio c
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Fuente rdacarrier
Nombre/término del tipo de soporte recurso electrónico
Código del tipo de soporte cr
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Engineering (Springer-11647)
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction -- Preliminaries -- Part I Debug of Design Bugs -- Automated Debugging for Logic Bugs -- Automated Debugging from Pre-Silicon to Post-Silicon -- Automated Debugging for Synchronization Bugs -- Part II Debug of Delay Faults -- Analyzing Timing Variations -- Automated Debugging for Timing Variations -- Efficient Automated Speedpath Debugging -- Part III Debug of Transactions -- Online Debug for NoC-Based Multiprocessor SoCs -- Summary and Outlook.
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers. Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages; Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level; Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
988 ## - NOTA LOCAL 598
Nota local 598 (boletines) EBSPRINGER_2018
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Circuitos integrados
Subdivisión general Diseño y construcción
Fuente del encabezamiento o término embne
9 (RLIN) 179611
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Fey, Görschwin.
Término indicativo de función/relación autor.
Código de función/relación aut
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut
Número de control del registro de autoridad o número normalizado http://id.loc.gov/authorities/names/no2005109143
Enlace <a href="http://viaf.org/viaf/26806068/">http://viaf.org/viaf/26806068/</a>
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783319093086
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783319093109
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783319356105
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-319-09309-3
Nota pública Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid)
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
-- 1
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación Library of Congress Classification
Tipo de ítem Koha LIBRO-E NO PRÉSTAMO
998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS
Fecha de catalogación 03/2019
Tipo de materia E-book
Catalogador Irene González
Catalogado
Holdings
Información adicional para el OPAC Código 2 (categoría) Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Tipo de material Código 1: Estado físico No se presta Código de colección Estado Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Tipo de préstamo Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Tipo de adquisición Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
Acceso concurrente No retirado   Library of Congress Classification E-Libro Buen estado Acceso electrónico Ciencias e Ingeniería Acceso electrónico Madrid Digital Madrid Digital Acceso Electrónico (UEM) 08/11/2018 En línea   TK7874.75 D443 2015 EB eBook.12112510 04/12/2018 Compra-Suscripción 04/12/2018 LIBRO-E NO PRÉSTAMO