MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
04619nam a22003015i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
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| campo de control |
103308 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102113124.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
141029s2015 gw | s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
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| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319089942 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
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| Número estándar o código |
10.1007/978-3-319-08994-2 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
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| Número de clasificación |
QC611.6.H67 |
| Número de documento/Ítem |
H683 2015 EB |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
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| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
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| Título |
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices |
| Mención de responsabilidad, etc. |
edited by Tibor Grasser. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
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| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2015 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
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| Extensión |
1 recurso en línea (X, 517 páginas 352 ilustraciones, 253 ilustraciones a color.) |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
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| Mención de serie |
Engineering (Springer-11647) |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
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| Nota de contenido con formato |
Part I: Beyond Lucky Electrons -- From Atoms to Circuits: Theoretical and Empirical Modeling of Hot Carrier Degradation -- The Energy Driven Hot Carrier Model -- Hot-Carrier Degradation in Decananometer -- Physics-based Modeling of Hot-carrier Degradation -- The Spherical Harmonics Expansion Method for Assessing Hot Carrier Degradation -- Recovery from Hot Carrier Induced Degradation Through Temperature Treatment -- Characterization of MOSFET Interface States Using the Charge Pumping Technique -- Part II: CMOS and Beyond -- Channel Hot Carriers in SiGe and Ge pMOSFETs -- Channel Hot Carrier Degradation and Self-Heating Effects in FinFETs -- Characterization and Modeling of High-Voltage LDMOS Transistors -- Compact modelling of the Hot-carrier Degradation of Integrated HV MOSFETs -- Hot-Carrier Degradation in Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
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| Sumario, etc. |
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today's most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy ("become hot"), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance. • Describes the intricacies of hot carrier degradation in modern semiconductor technologies; • Covers the entire hot carrier degradation phenomenon, including topics such as characterization, carrier transport, carrier-defect interaction, technological impact, circuit impact, etc.; • Enables detailed understanding of carrier transport, interaction of the carrier ensemble with the defect precursors, and an accurate assessment of how the newly created defects impact the device performance. • Covers modeling issues starting from detailed physics-based TCAD approaches up to efficient SPICE-compatible compact models. "Tibor Grasser and the authors of Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices have made a major contribution to the field of hot-carrier degradation. I am emeritus since 2006 and believe that, after reading these great chapters, I could work again at the cutting edge of hot-carrier transport, from the basic physics to modern device function and from compact modeling to detailed Monte Carlo simulations. This is a must read for anyone interested in the reliability of semiconductor devices." Karl Hess Swanlund Professor Emeritus University of Illinois, USA "Very few books can be found with special focus on microelectronics reliability. Written by noted experts in the field, this book offers a revealing look at various aspects of the hot carrier effect and associated device degradations. It provides a valuable reference on hot carrier related physics, experimental measurements, modeling, and practical demonstration on state-of-the-art devices. Engineering professionals, researchers, and students can use this book to save time and learn from the experts, with a quick overview of an important class of semiconductor devices and focus on device reliability physics." Steve Chung Chair Professor National Chiao Tung University, Taiwan. |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
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| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Semiconductores |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
140004 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Grasser, Tibor |
| Término indicativo de función/relación |
editor literario |
| Código de función/relación |
edt |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/n2003078844 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/346833/">http://viaf.org/viaf/346833/</a> |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319089935 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319089959 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319359120 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-319-08994-2 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
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| Fecha de catalogación |
03/2019 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Vanesa Moruno |
| Idioma |
eng |
| País |
gw |
| h |
0 |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
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