MARC details
| 000 -CABECERA |
| campo de control de longitud fija |
02784nam a22003135i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
103284 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
| campo de control |
20230102113123.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
| campo de control de longitud fija |
141203s2015 xxu| s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9781493913497 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
| Número estándar o código |
10.1007/978-1-4939-1349-7 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
| Número de clasificación |
TK7874 |
| Número de documento/Ítem |
.B487 2015 EB |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Bhushan, Manjul |
| Término indicativo de función/relación |
autor. |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/no2012031841 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/232574108/">http://viaf.org/viaf/232574108/</a> |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
| Título |
CMOS Test and Evaluation |
| Resto del título |
A Physical Perspective |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
New York, NY |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2015 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
| Extensión |
1 recurso en línea (XIII, 424 páginas 338 ilustraciones) |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
| Mención de serie |
Engineering (Springer-11647) |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
| Nota de contenido con formato |
Introduction -- CMOS Circuit Basics -- CMOS Storage Elements and Synchronous Logic -- IDDQ and Power -- Embedded PVT Monitors -- Variability -- Product Chip Test and Characterization -- Reliability, Burn-In and Guardbands -- Data Analysis and Characterization -- CMOS Metrics and Model Evaluation. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
| Sumario, etc. |
This book extends test structure applications described in Microelectronic Test Structures for CMOS Technology (Springer 2011) to digital CMOS product chips. Intended for engineering students and professionals, this book provides a single comprehensive source for evaluating CMOS technology and product test data from a basic knowledge of the physical behavior of the constituent components. Elementary circuits that exhibit key properties of complex CMOS chips are simulated and analyzed, and an integrated view of design, test and characterization is developed. Appropriately designed circuit monitors embedded in the CMOS chip serve to correlate CMOS technology models and circuit design tools to the hardware and also aid in test debug. Impact of silicon process variability, reliability, and power and performance sensitivities to a range of product application conditions are described. Circuit simulations exemplify the methodologies presented, and problems are included at the end of the chapters. |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Sistemas de seguridad |
| 9 (RLIN) |
666757 |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
| Nombre de persona |
Ketchen, Mark B |
| Término indicativo de función/relación |
autor. |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/no2012031840 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/232541022/">http://viaf.org/viaf/232541022/</a> |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9781493913480 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9781493913503 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9781493947027 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
| Fecha de catalogación |
03/2019 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Vanesa Moruno |
| Idioma |
eng |
| País |
gw |
| h |
0 |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
| -- |
1 |