CMOS Test and Evaluation (Record no. 103284)

MARC details
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 02784nam a22003135i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 103284
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control DE-He213
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20230102113123.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 141203s2015 xxu| s |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781493913497
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/978-1-4939-1349-7
Fuente del número o código doi
050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7874
Número de documento/Ítem .B487 2015 EB
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen ES-MaUEC
Lengua de catalogación spa
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Bhushan, Manjul
Término indicativo de función/relación autor.
Código de función/relación aut
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut
Número de control del registro de autoridad o número normalizado http://id.loc.gov/authorities/names/no2012031841
Enlace <a href="http://viaf.org/viaf/232574108/">http://viaf.org/viaf/232574108/</a>
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título CMOS Test and Evaluation
Resto del título A Physical Perspective
Mención de responsabilidad, etc. by Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright New York, NY
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer International Publishing
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2015
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 1 recurso en línea (XIII, 424 páginas 338 ilustraciones)
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Engineering (Springer-11647)
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction -- CMOS Circuit Basics -- CMOS Storage Elements and Synchronous Logic -- IDDQ and Power -- Embedded PVT Monitors -- Variability -- Product Chip Test and Characterization -- Reliability, Burn-In and Guardbands -- Data Analysis and Characterization -- CMOS Metrics and Model Evaluation.
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book extends test structure applications described in Microelectronic Test Struc­tures for CMOS Technology (Springer 2011) to digital CMOS product chips. Intended for engineering students and professionals, this book provides a single comprehensive source for evaluating CMOS technology and product test data from a basic knowledge of the physical behavior of the constituent components. Elementary circuits that exhibit key properties of complex CMOS chips are simulated and analyzed, and an integrated view of design, test and characterization is developed. Appropriately designed circuit monitors embedded in the CMOS chip serve to correlate CMOS technology models and circuit design tools to the hardware and also aid in test debug. Impact of silicon process variability, reliability, and power and performance sensitivities to a range of product application conditions are described. Circuit simulations exemplify the methodologies presented, and problems are included at the end of the chapters.
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Sistemas de seguridad
9 (RLIN) 666757
Fuente del encabezamiento o término embne
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Ketchen, Mark B
Término indicativo de función/relación autor.
Código de función/relación aut
-- http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut
Número de control del registro de autoridad o número normalizado http://id.loc.gov/authorities/names/no2012031840
Enlace <a href="http://viaf.org/viaf/232541022/">http://viaf.org/viaf/232541022/</a>
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781493913480
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781493913503
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781493947027
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Nota pública Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid)
998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS
Fecha de catalogación 03/2019
Tipo de materia E-book
Catalogador Vanesa Moruno
Idioma eng
País gw
h 0
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
-- 1
Holdings
Información adicional para el OPAC Código 2 (categoría) Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Tipo de material Código 1: Estado físico No se presta Código de colección Estado Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Tipo de préstamo Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Tipo de ítem Koha
Acceso concurrente No retirado   Library of Congress Classification E-Libro Buen estado Acceso electrónico Ciencias e Ingeniería Acceso electrónico Madrid Digital Madrid Digital Acceso Electrónico (UEM) 08/11/2018 En línea   TK7874 .B487 2015 EB eBook.12112136 04/12/2018 LIBRO-E NO PRÉSTAMO