MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03773nam a22003735i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
102875 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102113103.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
180314s2018 gw | s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319743820 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-3-319-74382-0 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
ES-MaUEC |
| Lengua de catalogación |
spa |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7888.4 2018 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Buccella, Pietro |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/67146573734738100427/">http://viaf.org/viaf/67146573734738100427/</a> |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Parasitic Substrate Coupling in High Voltage Integrated Circuits |
| Resto del título |
Minority and Majority Carriers Propagation in Semiconductor Substrate |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Pietro Buccella, Camillo Stefanucci, Maher Kayal, Jean-Michel Sallese. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2018 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea (XVII, 183 páginas 124 ilustraciones, 73 ilustraciones a color) |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Analog Circuits and Signal Processing |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas |
1872-082X |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Engineering (Springer-11647) |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Chapter1: Overview of Parasitic Substrate Coupling -- Chapter2: Design Challenges in High Voltage ICs -- Chapter3: Substrate Modeling with Parasitic Transistors -- Chapter4: TCAD Validation of the Model -- Chapter5: Extraction Tool for the Substrate Network -- Chapter6: Parasitic Bipolar Transistors in Benchmark Structures -- Chapter7: Substrate Coupling Analysis and Evaluation of Protection Strategies. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
This book introduces a new approach to model and predict substrate parasitic failures in integrated circuits with standard circuit design tools. The injection of majority and minority carriers in the substrate is a recurring problem in smart power ICs containing high voltage, high current switching devices besides sensitive control, protection and signal processing circuits. The injection of parasitic charges leads to the activation of substrate bipolar transistors. This book explores how these events can be evaluated for a wide range of circuit topologies. To this purpose, new generalized devices implemented in Verilog-A are used to model the substrate with standard circuit simulators. This approach was able to predict for the first time the activation of a latch-up in real circuits through post-layout SPICE simulation analysis. Discusses substrate modeling and circuit-level simulation of parasitic bipolar device coupling effects in integrated circuits; Includes circuit back-annotation of the parasitic lateral n-p-n and vertical p-n-p bipolar transistors in the substrate; Uses Spice for simulation and characterization of parasitic bipolar transistors, latch-up of the parasitic p-n-p-n structure, and electrostatic discharge (ESD) protection devices; Offers design guidelines to reduce couplings by adding specific test protections. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
EBSPRINGER_2018 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Circuitos lógicos |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
139135 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Electrónica |
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| 9 (RLIN) |
138690 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Stefanucci, Camillo |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/817145857913723021282/">http://viaf.org/viaf/817145857913723021282/</a> |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Kayal, Maher |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/nb2005020390 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/38895615/">http://viaf.org/viaf/38895615/</a> |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Sallese, Jean-Michel |
| Término indicativo de función/relación |
autor |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/n2018005201 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/1057145857143022922975/">http://viaf.org/viaf/1057145857143022922975/</a> |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319743813 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319743837 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-319-74382-0 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
02/2019 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Irene Bastante |
| Idioma |
eng |
| País |
gw |
| h |
0 |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| -- |
1 |