MARC details
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
05227nam a22003975i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
102771 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
DE-He213 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230102113058.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
a||||fo|||| 00| 0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
180223s2018 gw | s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319735580 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES |
|---|
| Número estándar o código |
10.1007/978-3-319-73558-0 |
| Fuente del número o código |
doi |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Lengua de catalogación |
spa |
| Centro/agencia transcriptor |
ES-MaUEC |
| Centro/agencia modificador |
ES-MaUEC |
| 050 #4 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7874 |
| Número de documento/Ítem |
2018 EB |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Lienig, Jens |
| 9 (RLIN) |
673400 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Jens Lienig, Matthias Thiele |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Cham |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer International Publishing |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2018 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
1 recurso en línea (XIII, 159 páginas) |
| Otras características físicas |
99 ilustraciones, 95 ilustraciones a color |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO |
|---|
| Fuente |
rdacontent |
| Término de tipo de contenido |
Texto |
| Código de tipo de contenido |
txt |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO |
|---|
| Fuente |
rdamedia |
| Nombre/término del tipo de medio |
electrónico |
| Código del tipo de medio |
c |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE |
|---|
| Fuente |
rdacarrier |
| Nombre/término del tipo de soporte |
recurso electrónico |
| Código del tipo de soporte |
cr |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL |
|---|
| Tipo de archivo |
text file |
| Formato de codificación |
PDF |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Engineering (Springer-11647) |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
Introduction -- Fundamentals of Electromigration -- Integrated Circuit Design and Electromigration -- Mitigating Electromigration in Physical Design -- Summary and Outlook. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability. Enables readers to understand and meet challenges of electromigration, including its effects on the reliability of electronic systems Accessible to readers of varying backgrounds and experience levels, combining practical application with theoretical underpinnings. Extensive use of multi-color illustrations, for rapid and clear understanding Multiple examples and hands-on instructions for the practical application of counter measures. "This unique book provides the fundamental science necessary for a sound grounding from which to make practical use of the complete and indispensable application-oriented information regarding the electromigration-aware design of electronic systems. It is a foundational reference for today's design professionals, as well as for the next generation of engineering students." Prof. Worthy Martin, University of Virginia "This is a long-awaited book bridging the design and reliability methodologies imperative for generating robust and high-performing semiconductor devices. A deep insight into physics of the electromigration induced degradation of on-chip interconnect components as well as explaining a design specific failure development are beneficial for both the chip-design and materials engineering communities." Dr. Valeriy Sukharev, D2S Calibre Division of Mentor, a Siemens Business "As digital electronic circuits scale down, it is getting increasingly difficult to maintain digital abstractions against a variety of physical phenomena, such as electromigration. This book summarizes our current understanding of electromigration and how its effects can be moderated in practice. Particularly important and valuable are techniques that can address electromigration in modern automated design flows." Prof. Igor Markov, University of Michigan "This timely book builds a fundamental knowledge of electromigration as well as discussing methods for designing robust integrated circuits. It covers electromigration, methodologies for electromigration-aware design for analog and digital circuits, and methods for mitigating electromigration during the physical design, all in-depth. Rarely, one can find a book with such scope and such practical applications. This book is an excellent resource for new and experienced IC designers." Prof. Laleh Behjat, University of Calgary "Good to have this book that walks the readers through a wonderful journey from understanding the basics and background of electromigration in circuit reliability to its physical process and the counter measures in physical design. It can help greatly people in different disciplines to understand these important topics and work towards better solutions in future technologies." Prof. Evangeline F.Y. Young, The Chinese University of Hong Kong. |
| 988 ## - NOTA LOCAL 598 |
|---|
| Nota local 598 (boletines) |
EBSPRINGER_2018 |
| 650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Fuente del encabezamiento o término |
embne |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada |
Circuitos integrados |
| Subdivisión general |
Diseño y construcción |
| 9 (RLIN) |
179611 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
|---|
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
SpringerLink (Online service) |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
<a href="http://id.loc.gov/authorities/names/no2005046756">http://id.loc.gov/authorities/names/no2005046756</a> |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/274647764/">http://viaf.org/viaf/274647764/</a> |
| 9 (RLIN) |
106996 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Thiele, Matthias. |
| Término indicativo de función/relación |
autor. |
| Código de función/relación |
aut |
| -- |
http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut |
| Número de control del registro de autoridad o número normalizado |
http://id.loc.gov/authorities/names/nr99036620 |
| Enlace |
<a href="http://viaf.org/viaf/35239055/">http://viaf.org/viaf/35239055/</a> |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319735573 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL |
|---|
| Información de relación/Frase instructiva de referencia |
Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783319735597 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Identificador Uniforme del Recurso |
https://go.openathens.net/redirector/universidadeuropea.es?url=https://doi.org/10.1007/978-3-319-73558-0 |
| Nota pública |
Acceso a este recurso digital (usuarios Universidad Europea de Madrid) |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| -- |
1 |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Library of Congress Classification |
| Tipo de ítem Koha |
LIBRO-E NO PRÉSTAMO |
| 998 ## - DATOS ESTADÍSTICOS |
|---|
| Fecha de catalogación |
05/2020 |
| Tipo de materia |
E-book |
| Catalogador |
Sara Morillo |
| Catalogado |
Sí |